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水滴角測試儀原理
2019-01-26 目前市場上有很多自稱是“水滴角測量儀”的分析儀器，通常這些儀器是將臥式顯微鏡或平整度分析儀增加一個(gè)進(jìn)液裝置后，再采用簡單的量角度軟件（如圓擬合分析工具、橢圓擬合分析工具）進(jìn)行測量。通過如上描述，用戶就會(huì)明顯看出，這樣的儀器只能是基于顯微鏡的一個(gè)量測二維條件下的水滴輪廓的角度的工具而已。如上1所述，水滴角值是表征固體材料物理化學(xué)性質(zhì)值，這個(gè)值屬于物理化學(xué)領(lǐng)域。且由于如下固體材料客觀存在的原因：（1）表面粗糙度：導(dǎo)致各視角條件下角度可能有不同；（2）化學(xué)多樣性：比如生銹的鐵銹位置...
選購水滴角的注意事項(xiàng)
2019-01-26 水滴角或水接觸角的測試主要注意點(diǎn)包括：（1）水的純度或清潔度一定要有保證。通常而言，建議測試水滴接觸角值時(shí)采用二次蒸餾水更好。（2）盡量保證室溫的穩(wěn)定性。*，水的表面張力值受溫度影響而有變化。但對于超疏水或超親水表面時(shí)，接觸角值事實(shí)影響并非很大，約在2度之內(nèi)。（3）測試水滴角前，一定要作進(jìn)液系統(tǒng)及水的清潔度的判斷。方法為，測試之前，采用基于ADSA－RealDrop算法的Young-Laplace方程擬合法對水的表面張力值進(jìn)行測試。ADSA-RealDrop法由于不受針頭直徑...
北京品智創(chuàng)思臺(tái)階儀特點(diǎn)
2019-01-26 臺(tái)階儀屬于接觸式表面形貌測量儀器。根據(jù)使用傳感器的不同，接觸式臺(tái)階測量可以分為電感式、壓電式和光電式3種。其測量原理是：當(dāng)觸針沿被測表面輕輕滑過時(shí)，由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時(shí)，還沿峰谷作上下運(yùn)動(dòng)。觸針的運(yùn)動(dòng)情況就反映了表面輪廓的情況。傳感器輸出的電信號(hào)經(jīng)測量電橋后，輸出與觸針偏離平衡位置的位移成正比的調(diào)幅信號(hào)。經(jīng)放大與相敏整流后，可將位移信號(hào)從調(diào)幅信號(hào)中解調(diào)出來，得到放大了的與觸針位移成正比的緩慢變化信號(hào)。再經(jīng)噪音濾波器、波度濾波器進(jìn)一步濾去調(diào)制頻率與外界干擾信號(hào)...
電池充電放電測試系統(tǒng)
2019-01-26 設(shè)備型號(hào)PZ-M50A/400V輸出通道1通道1柜，共1柜接口與訊通過485與PC機(jī)通訊，可通過U口或串口連接，一臺(tái)PC機(jī)可控制200工作模式恒壓充電、恒流充電、恒流定終止電壓檢時(shí)放電、恒流定時(shí)檢壓放電、恒功率放電、恒電阻放電、靜置、暫停、循環(huán)運(yùn)行方式，設(shè)置多階段程序時(shí)運(yùn)行方式可以自由組合階段切換條件時(shí)間、電壓、安時(shí)實(shí)時(shí)顯示電流、電壓、時(shí)間、階段、模式、Ah、Wh、單體電壓操作模式1.階段數(shù)目、電流、電壓等參數(shù)可以在額定范圍內(nèi)自行設(shè)置；2.程序設(shè)置終止條件時(shí)，不必逐項(xiàng)都填寫，...
晶圓表面張力接觸角表面能分析檢測測量系統(tǒng)
2019-01-26 晶圓表面分析檢測測量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)晶圓表面分析檢測測量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)詳情：晶圓表面分析檢測測量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)適用于半導(dǎo)體晶圓（Wafer）工藝的質(zhì)量控制。該視頻成像(VCA-Wafer)晶圓表面分析檢測測量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)提供晶圓（Wafers）表面的快速并準(zhǔn)確的接觸角/表面能分析，從而評估粘性，潔凈度及鍍膜。晶圓表面分析檢測測量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)采用輕量化的設(shè)計(jì)、組裝方便的基于Windows™標(biāo)準(zhǔn)的用戶友好型...
橢偏儀SOPRALAB/KLA 在半導(dǎo)體工藝上的應(yīng)用
2019-01-25 公司提供匈牙利Semilab公司SE-2000型、SE-1000光譜型橢偏儀（原法國Sopra公司GES5-E）。WT-2000型、WT-1200A、WT-1200B型、WT-1000型少子壽命測試儀、DLS-83D深能級(jí)瞬態(tài)譜儀。SE-2000光譜橢偏儀（原法國Sopra公司）是的橢偏儀設(shè)備供應(yīng)商，其高精度橢偏儀在半導(dǎo)體、化合物半導(dǎo)體（GaAs/SiC）、LCD和MEMS領(lǐng)域有著非常廣泛的應(yīng)用。目前有超過500臺(tái)的Sopra橢偏儀應(yīng)用在各個(gè)行業(yè)。主要特點(diǎn)：高精度的薄膜測量（...
臺(tái)階輪廓測試儀kia-tencor在半導(dǎo)體的應(yīng)用
2019-01-25 儀器簡介：應(yīng)用：◆薄膜厚度測量；◆樣品表面形貌測量；◆薄膜應(yīng)力測量；◆樣品表面粗糙度/波紋度測量；◆樣品表面三維形貌測量等。技術(shù)參數(shù)：KLA-Tenco探針式臺(tái)階儀，可測量納米級(jí)至2毫米臺(tái)階高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應(yīng)力，集高測量精度、多功能性和經(jīng)濟(jì)性于一體，是生產(chǎn)線及材料分析等應(yīng)用領(lǐng)域的理想選擇。因其具有6.0A(1σ)或0.1%臺(tái)階高度重復(fù)性以及分辨率,主要特點(diǎn)：◆Alpha-StepIQ采用天然金剛石作為探頭，經(jīng)久耐用。探針更換簡便、快速，軟件具有保護(hù)測針以...
光學(xué)膜厚儀Filmetrics F20UVX在半導(dǎo)體制造的應(yīng)用
2019-01-25 FilmetricsF20薄膜測厚儀經(jīng)濟(jì)有效的Filmetrics薄膜厚度測量系統(tǒng),測量薄膜厚度僅需幾秒鐘。Filmetrics系列膜厚測試儀擁有單點(diǎn)測量、顯微鏡斑點(diǎn)測量、自動(dòng)測繪系統(tǒng)、在線監(jiān)測等功能型號(hào)的膜厚測試儀產(chǎn)品。Filmetrics膜厚測試儀產(chǎn)品輕點(diǎn)鼠標(biāo)就能測量1納米到13毫米的單層薄膜或多層薄膜堆厚度。幾乎所有的材料都可以被測量。直觀的設(shè)計(jì)意味著您能在幾分鐘內(nèi)完成個(gè)薄膜厚度測量！產(chǎn)品介紹：1有五種不同波長選擇(波長范圍從紫外220nm至近紅外1700nm)；2大樣...

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